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電子元器件檢測系統是一種使用X射線技術對電子元器件進行非破壞性檢測的系統。它通過發射高能X射線束照射待測元器件,并利用X射線的透射、散射和吸收等現象,獲取元器件內部的結構、缺陷或異常情況的信息。
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